分享恒溫老化房的簡(jiǎn)歷

來(lái)源：林頻儀器 時(shí)間：2018-03-13 11:20

為了提高高性能電子產(chǎn)品的穩(wěn)定性與可靠性環(huán)試行業(yè)推出一款可以仿制恒溫、惡劣環(huán)境對(duì)電子產(chǎn)品進(jìn)行測(cè)試的儀器設(shè)備，我們把這樣的設(shè)備稱(chēng)之為“恒溫老化房”，該款設(shè)備廣泛用于通訊、電子、電腦、生物制藥等領(lǐng)域。下面我們具體來(lái)看看一下關(guān)于恒溫老化房的介紹。

恒溫老化房：根據(jù)不同的要求配置主體系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)，加熱系統(tǒng)、主電系統(tǒng)、時(shí)間控制系統(tǒng)、測(cè)試負(fù)載等，通過(guò)這些程序可檢查出不良品或不良件，既能迅速為用戶(hù)找出問(wèn)題并解決提供有效手段又能夠充分提高生產(chǎn)效率與產(chǎn)品質(zhì)量。

恒溫老化房是針對(duì)于手機(jī)充電器、主板機(jī)、掃描器、開(kāi)關(guān)電源、介面卡等做負(fù)載或溫度老化測(cè)試的一種設(shè)備，該款設(shè)備外框架構(gòu)：采用保溫庫(kù)板間隔組合而成，通過(guò)配上測(cè)試架和溫度控制器、定時(shí)器，以及循環(huán)風(fēng)機(jī)、排風(fēng)機(jī)，加溫電熱器插座等模擬出一種恒溫、惡劣環(huán)境，讓產(chǎn)品處于復(fù)雜環(huán)境下模擬負(fù)載通電試驗(yàn)，再通過(guò)此測(cè)試程序可查出不良品或不良零件，是制程、品管必備的儀器設(shè)備。

恒溫老化房的性能及環(huán)境必須保證產(chǎn)品所需要的溫度、負(fù)載量、電源質(zhì)量、工作質(zhì)量以及操作人員的安全等要求，所以一個(gè)合格的設(shè)備應(yīng)該是一個(gè)可靠、功能齊全、高效節(jié)能并且具有可擴(kuò)充性的設(shè)備。