使用高低溫箱測(cè)試電子產(chǎn)品,保證質(zhì)量安全
來(lái)源:林頻新聞 時(shí)間:2021-08-18 10:53摘要:電子器件在生產(chǎn)過(guò)程中,總有一步是關(guān)鍵的,使用高低溫箱測(cè)試產(chǎn)品質(zhì)量就成為了那關(guān)鍵的一步,那么,為什么電子產(chǎn)品要進(jìn)行試驗(yàn)?我想有很多人有這個(gè)疑問(wèn)。...
電子器件在生產(chǎn)過(guò)程中,總有一步是關(guān)鍵的,使用高低溫箱測(cè)試產(chǎn)品質(zhì)量就成為了那關(guān)鍵的一步,那么,為什么電子產(chǎn)品要進(jìn)行試驗(yàn)?我想有很多人有這個(gè)疑問(wèn)。
隨著技術(shù)的發(fā)展,電子產(chǎn)品逐漸發(fā)展集成化和結(jié)構(gòu)精細(xì)化,工序更多,制造工藝也越來(lái)越復(fù)雜,制造過(guò)程也存在著潛在的缺陷。在生產(chǎn)和制造過(guò)程中,由于設(shè)計(jì)不合理、原材料或工藝措施等原因而導(dǎo)致的產(chǎn)品質(zhì)量問(wèn)題可歸納為兩類:
一、所生產(chǎn)產(chǎn)品不符合使用要求,性能參數(shù)不符合標(biāo)準(zhǔn)。
二、普通檢測(cè)手段無(wú)法檢測(cè)到的潛在缺陷,在使用過(guò)程中需要逐漸暴露,如組織不穩(wěn)定、硅片表面污染、焊接空洞、芯片與管殼熱阻匹配不良等。
一般情況下,這種缺陷需要在元件工作的額定功率和正常工作溫度下工作1000小時(shí)左右,才能完全啟動(dòng)。顯然,要測(cè)試每一個(gè)部件一千小時(shí)是不切實(shí)際的,因此要對(duì)它施加熱應(yīng)力和偏壓,比如:高低溫箱進(jìn)行高溫功率應(yīng)力試驗(yàn),以加速該缺陷的早期暴露。
即對(duì)電子產(chǎn)品施以眾多綜合外力,高低溫箱模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境,使?jié)摲怨收媳M早出現(xiàn),盡快使產(chǎn)品通過(guò)失效浴盆的初期階段,高可靠的穩(wěn)定期。
經(jīng)過(guò)高低溫箱的試驗(yàn),能使產(chǎn)品在正常使用過(guò)程中提前暴露安全隱患,測(cè)量電氣參數(shù),篩選故障或變化的部件,盡可能把產(chǎn)品早期在正常使用過(guò)程中的隱患消除,從面保證產(chǎn)品出廠時(shí)能經(jīng)得起時(shí)間的考驗(yàn)。
相信介紹到這里,大家對(duì)電子產(chǎn)品為何要使用高低溫箱進(jìn)行測(cè)試已有比較清晰的認(rèn)識(shí)。需要購(gòu)買高低溫箱的客戶歡迎聯(lián)系我司。